Компания Huiran Microelectronics представила собственную локализованную версию CD-SEM (Critical Dimension Scanning Electron Microscope). CD-SEM — это специализированный растровый электронный микроскоп, который делает замеры элементов на полупроводниковых пластинах во время литографии. Этот прибор еще называют «маленьким литографом», как пишет IT Home.
В интервью СМИ председатель совета директоров компании Huiran Microelectronics, доктор Ван Чжиганг, отметил, что локализация производства CD-SEM сталкивается с тремя основными препятствиями: технологической интеграцией, накоплением опыта и ноу-хау, а также поддержкой цепочки поставок.
